金士顿固态硬盘测试——高低温实验剖析

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金士顿固态硬盘测试——高低温实验剖析

存储设备长期受负载,影响深远,此种“动态读写出错率高,数据准确传输能力低”的问题,一直是研究领域的热点。为此,针对金士顿固态硬盘高低温实验就应运而生,以求从实验中提炼出硬盘表现的最佳实践,达到较高的可靠性。

金士顿固态硬盘高低温实验主要通过迸发测试(burst mode)方法,不受病毒、磁头碰撞、读写延时、无差错率等影响,生成一系列标准的读写,进而观察固态硬盘是否能够稳定的生成可读数据,以及是否有破坏性的实验。本次实验只测试硬盘的耐温性和可靠性能,没有测试它的传输效率,也并不表明金士顿固态硬盘能够适用于不同温度下的工作环境。

金士顿固态硬盘经受测试后,在高低温环境下均没有出现任暗示严重硬盘故障的症状,因此硬盘的工作性能仍然是可靠的。实验室内高低温的硬盘数据如下:

- 在低温下(-20°C),金士顿固态硬盘的读写未受影响。测试结果显示,硬盘的剩余容量只下降了不到1%。

- 在高温(85°C)环境下,金士顿固态硬盘仍然可以正常运行,测试过程中未出现任何异常。

以上就是金士顿固态硬盘高低温实验的一个大概介绍,实验结果表明,根据实验室的测试方案,金士顿固态硬盘在温度范围-20°C到85°C内,可以保持良好的可靠性,无论工作环境多么恶劣,它仍然能够严格按照各项读写要求正确稳定的运行。

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