金士顿固态硬盘测试——高低温实验剖析

金士顿固态硬盘测试——高低温实验剖析

存储设备长期受负载,影响深远,此种“动态读写出错率高,数据准确传输能力低”的问题,一直是研究领域的热点。为此,针对金士顿固态硬盘的高低温实验就应运而生,以求从实验中提炼出硬盘表现的最佳实践,达到较高的可靠性。金士顿固态硬盘高低温实验主要通过
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